先端半球付きプローブ・ピン

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：後藤洋介 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-212628
公開番号（公開出願番号）：特開平7-063785
出願日： 1993年08月27日
公開日（公表日）： 1995年03月10日
要約：

【要約】【目的】被測定物のどのような端子表面の凹凸にも追随接触して対応できるとともに、正確な電気的導通や電気抵抗等の測定を行えるプローブ・ピンを提供する。【構成】図1(a)は、本発明の一実施例のプローブ・ピン4の先端を示し、超精密加工により加工されたプローブ・ピン4の先端が半球状(R形状)を呈している。図1(b)は、プレス加工による凹凸が多い面やはんだ面の凹凸等の被測定物の端子表面1に先端半球付きプローブ・ピン4が表面の凹凸に追随して接触している状態を示す。

請求項（抜粋）：