特許
J-GLOBAL ID:200903007776394718

光学および/または磁気マーカを備える蛍光透視重ね合せ構造体

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件): 浅村 皓 ,  浅村 肇 ,  森 徹 ,  岩本 行夫
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-538364
公開番号(公開出願番号):特表2004-519271
出願日: 2001年09月25日
公開日(公表日): 2004年07月02日
要約:
2つまたはそれ以上の蛍光透視画像の重ね合せに使用するための重ね合せ構造体(10)は、放射線透過体(11)に据え付けられた、複数の放射線不透過性球体(12、14、16)と、光学反射体(20、22、24、26)などの複数の追跡可能マーカとを含む。追跡システムは、蛍光透視画像を重ね合せるための追跡可能マーカを使用して、既知のリファレンス枠に関する重ね合せ可能構造体の位置を特定する。
請求項(抜粋):
蛍光透視画像の重ね合せの際に使用するための重ね合せ構造体であって、 既知の幾何学的関係で配置された複数の放射線不透過性基準物と、 前記構造体上に基準物との既知の幾何学的関係で配列された複数の追跡可能マーカとを備える重ね合せ構造体。
IPC (2件):
A61B19/00 ,  H04N5/325
FI (2件):
A61B19/00 502 ,  A61B6/00 350P
Fターム (5件):
4C093DA10 ,  4C093EC16 ,  4C093FF31 ,  4C093FF37 ,  4C093FG13

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