特許

J-GLOBAL ID：200903007819957568

集積回路のテスト方法

発明者： 赤羽 正志
出願人/特許権者： 富士電機株式会社
代理人 (1件)： 森 哲也 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-242008
公開番号（公開出願番号）：特開2001-066350
出願日： 1999年08月27日
公開日（公表日）： 2001年03月16日
要約：

【要約】【課題】 LSI等の周辺回路と接続された集積回路の単体テストを容易に行う。【解決手段】 テスト対象の被LSI100のコアロジックCLとその外部接続端子との間にモード選択制御回路Cを設け、テストモード時は、被LSI100に入力されるデータに代えて予め設定した固定値をコアロジックCLに出力し、またコアロジックCLからの出力信号を予め設定した固定値に代えて接続先の周辺回路に出力する。固定値として、被LSI100を、プリント基板への電源投入後に周辺回路と被LSI100とで信号授受を行う前の状態に維持することの可能な値を設定すれば、テストモード時には、周辺回路と被LSI100とは切り離された状態となる。そして、この状態で、スキャン入力信号を入力して、モード選択制御回路CのスキャンフリップフロップとコアロジックCLに設けられたスキャンフリップフロップFFとを用いてスキャンテスト手法によるテストを行う。

請求項（抜粋）：

スキャンテストを実行するためのスキャンテスト回路を備え且つ周辺回路と接続された集積回路のテストを行うための集積回路のテスト方法であって、テスト実行時に、前記集積回路と前記周辺回路との間で授受する信号を前記集積回路を所定の状態に維持するための固定値信号に替える固定値変換回路と、少なくともスキャンフリップフロップを含んで構成され且つ前記スキャンテスト用のテストデータを前記集積回路に印加するためのテストデータ入力回路と、を前記集積回路に設け、前記固定値変換回路で前記集積回路と前記周辺回路との間で授受する信号を前記固定値信号に替えた状態で前記スキャンテスト回路及び前記テストデータ入力回路にテストデータを印加して前記スキャンテストを実行するようにしたことを特徴とする集積回路のテスト方法。

IPC (2件)：

G01R 31/28 ,  G06F 11/22 360

FI (2件)：

G01R 31/28 G ,  G06F 11/22 360 P

Fターム (11件)：

2G032AA00 ,  2G032AC10 ,  2G032AE07 ,  2G032AE12 ,  2G032AK14 ,  2G032AK16 ,  5B048AA22 ,  5B048CC18 ,  5B048DD05 ,  5B048FF01 ,  5B048FF03