特許
J-GLOBAL ID：200903007823194935
塗膜下腐食検査方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴江 武彦 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-289788
公開番号（公開出願番号）：特開平11-125608
出願日： 1997年10月22日
公開日（公表日）： 1999年05月11日
要約：
【要約】【課題】X線反射を利用することにより、塗膜やライニング皮膜上から鋼板やパイプなどの金属材料の表面の腐食状態を検査する方法を提供する。【解決手段】塗装またはライニングが施された金属1の塗膜またはライニング皮膜2下の金属1面に対して、X線を、反射線量強度比率で70〜100%となる角度で入射する工程と、入射X線5に対する反射線量率を計測する工程と、この線量率から、予め求めたX線の反射線量率と金属表面粗さとの関係に基づいて、金属表面の粗さを計測する工程と、この金属表面の粗さから、予め求めた金属表面粗さと腐食の程度との関係に基づいて、塗膜下の金属表面の腐食発生の有無及び腐食の程度を検査する工程とを備えたことを特徴とする、塗膜下腐食検査方法。
請求項（抜粋）：
塗装またはライニングが施された金属の塗膜またはライニング皮膜下の金属面に対して、X線を、反射線量強度比率で70〜100%となる角度で入射する工程と、入射X線に対する反射線量率を計測する工程と、この線量率から、予め求めたX線の反射線量率と金属表面粗さとの関係に基づいて、金属表面の粗さを計測する工程と、この金属表面の粗さから、予め求めた金属表面粗さと腐食の程度との関係に基づいて、塗膜下の金属表面の腐食発生の有無及び腐食の程度を検査する工程と、を備えたことを特徴とする、塗膜下腐食検査方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 23/20
, G01B 15/00 A
