特許
J-GLOBAL ID：200903007832593656

断層撮影装置

発明者：
森田 尚孝

森田 尚孝 について


出願人/特許権者：
株式会社島津製作所

株式会社島津製作所 について


代理人 (1件)： 杉谷 勉
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-349999
公開番号（公開出願番号）：特開2004-180847
出願日： 2002年12月02日
公開日（公表日）： 2004年07月02日
要約：
【課題】断層撮影前に、注目すべき被検体の領域が再構成可能範囲に入るように撮影条件を容易に設定することができる断層撮影装置を提供することを目的とする。【解決手段】本撮影前にX線管5およびI.I6の走査範囲に基づいて被検体Mの有効範囲21を予め求め、本撮影で撮影する別の方向のy軸方向から、X線管5がX線を被検体Mに照射してイメージインテンシファイア(I.I)6がそのX線を検出する予備撮影を行う。予備撮影で得られた被検体Mの撮影データと、有効範囲21とを重ね合わせ、その重ね合わせに基づいて撮影条件を設定することが可能になる。その結果、本撮影でもある断層撮影前に、注目すべき被検体の領域が再構成可能範囲に入るように撮影条件を容易に設定することができる。【選択図】 図4
請求項（抜粋）：
被検体を断層撮影する第1撮影手段を備え、前記第1撮影手段は、電磁波を前記被検体に照射する照射源と、前記被検体に照射されて透過された前記電磁波を検出する検出手段と、前記照射源および検出手段を走査させる走査手段とを備えた断層撮影装置であって、前記装置は、前記第1撮影手段が撮影する照射源から検出手段への照射方向とは別の方向から前記被検体を撮影する第2撮影手段と、前記走査手段による前記照射源および検出手段の走査範囲に基づいて求められた断層像の有効範囲、および前記第2撮影手段によって撮影された撮影画像を重ね合わせ、その重ね合わせに基づいて撮影条件を設定する撮影条件設定手段とを備えることを特徴とする断層撮影装置。
IPC (3件)：
A61B6/02 ,  A61B6/00 ,  G01N23/04
FI (4件)：
A61B6/02 301A ,  A61B6/00 320Z ,  A61B6/00 330Z ,  G01N23/04
Fターム (20件)：
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA09 ,  2G001GA13 ,  2G001HA13 ,  2G001JA01 ,  2G001JA06 ,  2G001JA11 ,  2G001KA03 ,  2G001LA01 ,  4C093AA11 ,  4C093CA16 ,  4C093EB12 ,  4C093EB17 ,  4C093EC26 ,  4C093EC33 ,  4C093FA36 ,  4C093FA42 ,  4C093FG11
引用特許：
出願人引用 (2件)
  • X線映像装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-245679   出願人：株式会社島津製作所
  • X線画像診断装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-106990   出願人：株式会社東芝

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