特許
J-GLOBAL ID:200903007836748930
偏光感応性光コヒーレンストモグラフィを用いて偏光非解消の偏光パラメータを測定するジョーンズ行列に基づく解析を行うシステム及び方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (4件):
正林 真之
, 高岡 亮一
, 林 一好
, 加藤 清志
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-539277
公開番号(公開出願番号):特表2008-519264
出願日: 2005年10月31日
公開日(公表日): 2008年06月05日
要約:
ジョーンズ行列に基づく解析を実行する、ファイバ光学部品を用いた偏光感光性光コヒーレンストモグラフィ(OCT)システム用の装置及び方法を提供する。OCTシステムによって得られた干渉計測情報を処理してOCTシステムのファイバ光学部品によって生じる偏光効果を削減し、次にサンプルの複減衰量を測定する。更に、電磁放射線をサンプルと基準部に放射する装置及び方法も提供する。電磁放射の周波数は、時間とともに変化し、偏光変調部は放射線の偏光状態を制御する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
光コヒーレンストモグラフィ(“OCT”)システムにおいてサンプルから受信される干渉計測信号の偏光効果を補償する装置であって、
所定の処理を実施する際に、
a)前記サンプル及び基準部に関連した干渉計測情報を受け取り、
b)前記干渉計測情報を処理して、前記光コヒーレンストモグラフィシステムの検出部によって前記干渉計測信号に対して生じる偏光効果を軽減し、前記サンプルの複減衰の量を決定するように構成された処理部を備え、前記干渉計測情報が、偏光分離部と光学的に連結して当該偏光分離部から上流に設けられる少なくとも1つの光ファイバに沿って少なくとも一部が提供される、装置。
IPC (5件):
G01N 21/17
, G02B 5/30
, G02B 27/28
, G01N 21/21
, G01J 4/04
FI (5件):
G01N21/17 620
, G02B5/30
, G02B27/28 Z
, G01N21/21 Z
, G01J4/04 Z
Fターム (20件):
2G059AA05
, 2G059BB12
, 2G059CC16
, 2G059EE02
, 2G059FF02
, 2G059GG04
, 2G059JJ17
, 2G059JJ18
, 2G059JJ19
, 2G059JJ22
, 2G059KK01
, 2H049BA02
, 2H049BA05
, 2H049BB03
, 2H049BC23
, 2H199AB01
, 2H199AB33
, 2H199AB42
, 2H199AB52
, 2H199AB61
引用特許:
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