特許
J-GLOBAL ID：200903007843896090
電子部品実装機のノズル高さ補正方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小鍜治 明 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-007299
公開番号（公開出願番号）：特開平5-198977
出願日： 1992年01月20日
公開日（公表日）： 1993年08月06日
要約：
【要約】【目的】 電子部品装着機において、設備稼働中に吸着不良の発生したノズルに対し、ノズル高さの補正を人手を介さずに、また設備の稼働を止めずに行う。【構成】 吸着不良を検出する第1工程27、吸着不良回数の計数結果をもとにノズル不良を判定する第2工程28、不良ノズルの高さを測定する第3工程29、ノズル高さの測定結果と予め指定された値とを比較し、ノズル高さの誤差を算出する第4工程30、ノズル高さの誤差をもとに、以後の電子部品吸着時にノズルが予め指定された高さになるよう、ノズルの位置決めを行う第5工程31により、吸着不良の発生したノズルの高さを自動的に補正する。
請求項（抜粋）：
電子部品を吸着して移動可能なノズルと、電子部品をノズルに供給する部品供給部と、発光部と受光部との間に上記ノズルを通過させることによりノズルの高さを測定する測定手段と、上記測定手段による測定値と予め入力された値とを比較してノズルの高さ判定と吸着不良を判断する吸着判断部と、予め入力された値にノズルの高さを設定する位置決め制御部と、上記位置決め制御部の設定値に基づき上記ノズルの高さ設定を行うノズル上下手段とを有し、上記吸着判断部は上記測定手段による測定値と正常なノズルが電子部品を正常に吸着して最下点に達したときの高さとを比較して吸着不良か否かを判定する第1工程のステップと、吸着不良であるときには上記測定手段による測定値と正常なノズルが電子部品を正常に吸着して最下点に達したときの高さとを比較して吸着異常か否かを判定する第2工程のステップと、吸着異常でないときにはノズルの高さが正常か否かを判定する第3工程のステップと、ノズルの高さが正常であるとき連続吸着不良数が規定の値を超えたか否かを判定する第4工程のステップと、連続吸着不良数が規定の値以下のときは吸着不良率が規定の値を超えたか否かを判定する第5工程のステップと、吸着不良率が規定の値を超えたときはノズル先端の電子部品を廃棄して再度ノズル高さを測定する第6工程のステップと、上記再測定されたノズル高さ測定値と予め入力された所定の値とを比較してノズル高さ誤差を算出する第7工程のステップとよりなる電子部品実装機のノズル高さ補正方法。
IPC (2件)：
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