特許

J-GLOBAL ID：200903007886097859

距離検出装置

発明者： 鈴木 尋善
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (1件)： 高田 守
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-015585
公開番号（公開出願番号）：特開平6-229755
出願日： 1993年02月02日
公開日（公表日）： 1994年08月19日
要約：

【要約】【目的】 測距対象の反射特性や反射面の傾きに拘らず測距対象までの距離を正確に検出する。【構成】 光源1より測距対象3に向けて光ビームを放射し、その反射光を第1および第2の結像光学系の結像面に配したPSD5Rおよび5Lで受光する。PSD5R(5L)での受光位置を示す信号VXR(VXL)と受光量を示す信号VSR(VSL)を位置検出部6R(6L)より得る。比較回路104,105でPSD5Rと5Lとの受光量比RDをRDmin ,RDmax と比較する。比較回路103でPSD5Rと5Lとの総受光量をRSと比較する。これら比較回路での比較結果に応じ演算式を切り替えて、その演算式に信号VXR,VXLより求まる受光位置XR,XLを適当に代入し、測定対象3までの距離を演算する

請求項（抜粋）：

光源より測距対象に向けてパルス状の光ビームを放射し、測距対象からの反射光を受光し、この反射光の受光位置に基づいて測距対象までの距離を演算する距離検出装置において、前記光源を挾みその光軸が前記光源の光軸とほゞ平行に配された第1および第2の結像光学系と、この第1および第2の結像光学系の結像面に配された第1および第2の光位置検出器と、この第1および第2の光位置検出器における前記光源の発光期間中の入射光の受光量を検出する第1および第2の受光量検出手段と、前記第1および第2の光位置検出器における前記光源の発光期間中の入射光の受光位置を検出する第1および第2の受光位置検出手段と、前記第1および第2の受光量検出手段の検出する受光量の比を所定の光量比基準範囲と比較する光量比比較手段と、前記第1および第2の受光量検出手段の検出する受光量の総和を求める総受光量演算手段と、この総受光量演算手段の求めた受光量の総和を所定の総受光量基準値と比較する光量和比較手段と、複数の演算式を有し、前記光量和比較手段および前記光量比比較手段での比較結果に応じて1つの演算式を選択し、その選択した演算式を用い前記第1および第2の受光位置検出手段の検出する受光位置の少なくとも一方から測定対象までの距離を演算する距離演算手段とを備えたことを特徴とする距離検出装置。

IPC (3件)：

G01C 3/06 ,  B60R 21/00 ,  G08G 1/16