特許
J-GLOBAL ID：200903007955093631
抵抗測定方法およびその装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大原 拓也
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-339798
公開番号（公開出願番号）：特開2001-153903
出願日： 1999年11月30日
公開日（公表日）： 2001年06月08日
要約：
【要約】【課題】 四端子法により被測定抵抗体の抵抗値を測定する際、熱起電力の影響を簡単かつ確実に排除する。【解決手段】 まず、第1回目の測定として、直流定電流源10より被測定抵抗体Xに対して、その第1リードL1側から第2リードL2側に向けて定電流Iを流して、そのときに被測定抵抗体Xに発生する電圧Vaを測定し、次に、第2回目の測定として、今度は反対に被測定抵抗体Xに対して、第2リードL2側から第1リードL1側に向けて定電流Iを流して、そのときに被測定抵抗体Xに発生する電圧Vbを測定した後、電圧Vaと電圧Vbの平均電圧Vcを算出し、この平均電圧Vcと定電流Iとから被測定抵抗体Xの抵抗値を求める。
請求項（抜粋）：
被測定抵抗体から引き出されている第1および第2の各リードに、一対の電流プローブおよび一対の電圧プローブをそれぞれ同時に接触させた状態で、直流定電流源より上記一対の電流プローブを介して上記被測定抵抗体に所定の定電流Iを供給し、そのときに上記被測定抵抗体に発生する電圧Vを上記一対の電圧プローブを介して電圧測定手段にて測定し、上記定電流Iと上記電圧Vとから、上記被測定抵抗体の抵抗値を求める四端子法による抵抗測定方法において、まず、上記直流定電流源より上記被測定抵抗体に対して、上記第1リード側から上記第2リード側に向けて上記定電流Iを流し、そのときに上記被測定抵抗体に発生する電圧Vaを上記電圧測定手段にて測定し、次に、上記直流定電流源より上記被測定抵抗体に対して、上記第2リード側から上記第1リード側に向けて上記定電流Iを流し、そのときに上記被測定抵抗体に発生する電圧Vbを上記電圧測定手段にて測定した後、上記電圧Vaと上記電圧Vbの平均電圧Vcを算出し、この平均電圧Vcと上記定電流Iとから上記被測定抵抗体の抵抗値を求めることを特徴とする抵抗測定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01R 27/02 R
, G01K 7/18 A
2F056PA01
, 2F056PA09
, 2G028AA01
, 2G028AA04
, 2G028BB03
, 2G028CG02
, 2G028DH03
, 2G028DH13
, 2G028FK01
, 2G028GL07
, 2G028GL11
, 2G028HM07
, 2G028HN11
, 2G028HN13
, 2G028LR02
