特許

J-GLOBAL ID：200903007958573383

粒子撮像装置

発明者： 久保田 文雄 ,  井邨 泰之
出願人/特許権者： シスメックス株式会社
代理人 (1件)： 西野 卓嗣
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-140352
公開番号（公開出願番号）：特開平11-295208
出願日： 1998年04月13日
公開日（公表日）： 1999年10月29日
要約：

【要約】【課題】 粒子分析する上で有用な粒子画像を得る。【解決手段】 粒子含有試料液をシース液で囲んで流すフローセルと、その流れ粒子を順次撮像する粒子撮豫系を備える粒子撮豫装置において、粒子撮像系は第1の粒子撮像系と第2の粒子撮像系とを含み、第1の粒子撮像系と第2の粒子撮像系とは粒子に対する照射形態が異なるように構成した。

請求項（抜粋）：

粒子含有試料液をシース液で囲んで流すフローセルと、その流れ粒子を順次撮像する粒子撮像系を備える粒子撮像装置において、粒子撮像系は第1の粒子撮像系と第2の粒子撮像系とを含み、第1の粒子撮像系と第2の粒子撮像系とは粒子に対する照射光の照射形態が異なることを特徴とする粒子撮像装置。