特許

J-GLOBAL ID：200903007959710341

ESI質量分析計

発明者： 三村 忠男 ,  加藤 義昭 ,  村松 和美
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 高橋 明夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-227052
公開番号（公開出願番号）：特開平6-076789
出願日： 1992年08月26日
公開日（公表日）： 1994年03月18日
要約：

【要約】【目的】 ESIプローブの先端より試料が霧化するための条件、或いは霧化された試料が細孔電極に達するまでの条件を安定に保つことによってIon Evaporationを促進させ、検出する試料分子のイオンピークの感度を向上させる。【構成】 第1のカバー20は、ESIプローブ3及びこれに対向する第1の細孔電極6のある空間を覆い、排気ファン12と空気取り入れ口14が付設してある。第2のカバー21は、第1のカバー20内に位置してESIプローブ3と第1細孔電極6との間を覆い、その一端が第1細孔電極6面或いはこれを支持する板面9に接続,固定され、第2のカバー21の他端に穴21b付きのエンドプレート21aが設けてある。この穴21bを介してESIプローブ3の先端をカバー21内に導入してあり、カバー21内がイオン化部空間Iとしてある。

請求項（抜粋）：

大気圧或いはそれに近い状態の空間(以下、この空間を大気圧領域とする)にエレクトロスプレイプローブ(以下、ESIプローブと略する)から液体試料を噴射してIon Evaporation現象を生じさせるイオン化部を備え、このイオン化部で生成された試料イオンを差動排気を利用して中間圧力領域を経て分析部に導入するESI(エレクトロスプレイイオン化方式)質量分析計において、前記ESIプローブ及びこれに対向する細孔電極(この細孔電極は試料イオンを中間圧力領域に導くためのものである)のある空間を覆う第1のカバーと、この第1のカバー内に位置して前記ESIプローブと前記細孔電極との間を覆う第2のカバーが設けられ、前記第1のカバーは空気取入口及び排気機能を備え、前記第2のカバーは、筒形を呈してその一端が前記細孔電極面或いはこれを支持する板面に接続され、この第2のカバーの他端に前記ESIプローブの少なくとも先端を導入する穴付きのエンドプレートが設けてあり、この第2のカバーを前記第1のカバーと同様の大気圧領域として第2のカバー内がイオン化部空間としてあることを特徴とするESI質量分析計。

IPC (2件)：

H01J 49/26 ,  G01N 27/62