特許

J-GLOBAL ID：200903007986891820

乾式粒子分析のための方法および装置

発明者： ジェフリー ピアース ベーカー ,  スティーブン チャールス モッツ ,  クレイグ エー. ライト
出願人/特許権者： 株式会社堀場製作所
代理人 (1件)： 藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-305908
公開番号（公開出願番号）：特開平6-201568
出願日： 1993年11月11日
公開日（公表日）： 1994年07月19日
要約：

【要約】【目的】 粒状材料の嵩張った試料の粒度分布などの物理学的特性を光学的手段によって分析するための方法および装置を提供する。【方法】 嵩張った試料40をふるいカップ22に設けられた網38によって霧雨状化して粒子の下降流を形成し、この粒子の下降流の周りに、これを包むような第一および第二の周囲空気流を与える第一空気入口144 および第二空気の入口82を設けて、前記粒子を重力の助けを借りて導管部材28および分析通路116 から分離した柱状流の状態で下降させ、この柱状化された粒子148 の層が、垂直下方に延びる光学的分析セル通路を形成した後、この層状化された粒子148 に前記分析通路116 内で光学的識別光を照射し光学的分析を行った後、粒子の移動方向が水平に、そして、上方へと変換されて乾式粒子分析装置から排出される。

請求項（抜粋）：

嵩張った試料から粒子を霧雨状化するための手段、前記霧雨状化された粒子のまわりに第一周囲空気の下降流を与える手段、第一空気流および霧雨状化された粒子を下方に向かって柱状化する手段、前記柱状化された第一周囲空気および霧雨状化された粒子のまわりに実質的にそれらといっしょの速度で第二の周囲空気の下降流および柱状流を与える手段、および、いっしょになって下方に流れる霧雨状化された粒子および第一および第二周囲空気流を受けてその中を下方に向かって流すようにする垂直下方に延びる光学的分析セル通路を形成し、それによって、霧雨状化された粒子を前記嵩張った試料から前記分析セル通路手段を通って下方に連続的に流す手段から成る乾式粒子分析装置。