特許
J-GLOBAL ID：200903008051862194
RAMのチェック方法
発明者：
出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
山口 巖
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-141853
公開番号（公開出願番号）：特開平5-334202
出願日： 1992年06月03日
公開日（公表日）： 1993年12月17日
要約：
【要約】【目的】RAMまたはデータ線の異常とアドレス線異常とを分離できるRAMのチェック方法を提供する。【構成】RAMの全領域クリア後、テスト対象番地を先ず先頭番地とし、手段1を介しこの番地の内容が“0”であることを確認し、“0”でなければアドレス線不良とする。次に手段2を介しこの番地にチェック用データ“000...01”を書込み、このチェック用データが正しく書込まれたことを手段3を介し確認し、この書込が不良の場合RAMまたはデータ線不良とする。次に手段4を介しテスト用データDYを1ビット左シフトして同番地に書込み上記と同様な書込確認を行い、この書込確認を最上位ビットが“1”のテスト用データに到るまで行う。次は手段5を介しテスト対象番地を1つ進め以上と同様の確認を行い、以下同様に全番地について前記の書込確認が行われればRAM良とする。
請求項（抜粋）：
RAMの全領域を0クリアし、先ずテスト対象アドレスの内容を読出して0であることを確認し(以下この確認を第1の確認という)、次にRAMのデータ長の全ビット中1ビットのみ“1”としてデータを当該アドレスに書込んだのち当該アドレスの内容を読出してこの読出内容が前記の書込データに一致することを確認し(以下この確認を第2の確認という)、この第2の確認が得られる限り前記書込データの“1”の桁を最下位(最上位)ビットから昇順(降順)に最上位(最下位)ビットに到るまで1ビットづつシフトしたデータを順次新たな書込データとする前記第2の確認を繰返して当該アドレスに関わる全てのチェックを正常と判定し、この正常の判定が行われる限り、テスト対象アドレスをRAMの全領域の最小(最大)アドレスから昇順(降順)に最大(最小)アドレスまで順次インクリメント(デクリメント)しつつ、順次新たなテスト対象アドレスについて前記第1の確認から正常判定に到るまでの動作を繰返してこのRAMを正常と判定し、この間、1回でも前記第1の確認ができなかった場合にはアドレス線不良とし、同じく前記第2の確認ができなかった場合にはRAMまたはデータ線不良とすることを特徴とするRAMのチェック方法。
IPC (2件)：
G06F 12/16 330
, G06F 11/00 310
