特許

J-GLOBAL ID：200903008064457914

光ピックアップ

発明者： 小島 光喜 ,  堀之内 昇吾
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 小鍜治 明 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-094035
公開番号（公開出願番号）：特開平6-290477
出願日： 1992年04月14日
公開日（公表日）： 1994年10月18日
要約：

【要約】【目的】 光ディスクに用いる光ピックアップの光源である半導体レーザの射出光出力をモニタし、制御する。【構成】 相対する第1の反射面4と第2の反射面6、集光クレーティングレンズ5がガラス素子3に一体形成され、第1の反射面4の全面もしくは一部に少なくとも3つの異なる干渉縞領域からなる反射型ホログラムを形成するとともに半導体レーザ1、多分割光検出器7および光検出器10を封印樹脂8でガラス素子3に接着固定し、一体型の光ピックアップを構成する。【効果】 第1の反射面に形成された反射型ホログラムの1次回析光を光検出器により検出することにより、半導体レーザからの反射光出力をモニタし、レーザ光出力を制御することができる。

請求項（抜粋）：

レーザ光を射出するレーザ発生装置と、前記レーザ発生装置からの射出光をディスク基盤上に集光する集光光学素子と、前記レーザ発生装置と前記集光光学素子間に前記レーザ発生装置からの射出光を反射する第1の反射面と、前記第1の反射面からの光束を反射する第2の反射面を互いに相対して設け、前記第1の反射面上の全面もしくは一部に形成された反射型ホログラムと、前記第1の反射面上の反射型ホログラムからの回析光を検出する光検出手段を備え、前記光検出手段の出力により前記レーザ発生装置のレーザ光出力をモニタし、制御する光ピックアップ。

IPC (4件)：

G11B 7/125 ,  G02B 5/32 ,  G11B 7/00 ,  G11B 7/135

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開平2-265036
  
• 特開平1-282756
  
• 特開昭62-145444