特許

J-GLOBAL ID：200903008117156059

光応用測定装置

発明者： 高橋 正雄 ,  寺井 清寿 ,  生田 栄
出願人/特許権者： 株式会社東芝 ,  東芝変電機器テクノロジー株式会社
代理人 (1件)： 鈴江 武彦 (外6名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-204865
公開番号（公開出願番号）：特開2001-033492
出願日： 1999年07月19日
公開日（公表日）： 2001年02月09日
要約：

【要約】【課題】電流又は磁界等の物理量の変化を高精度で安定した状態で測定することにある。【解決手段】光ファイバーのファラデー効果を利用して電流又は磁界を計測する光応用測定装置において、センサーとなる光ファイバーの一端部にファイバー回折格子を反射鏡として設けるようにしたものである。

請求項（抜粋）：

光ファイバーのファラデー効果を利用して電流又は磁界を計測する光応用測定装置において、センサーとなる光ファイバーの一端部にファイバー回折格子を反射鏡として形成したことを特徴とする光応用測定装置。

IPC (3件)：

G01R 15/24 ,  G01R 33/032 ,  G02F 1/095

FI (3件)：

G01R 15/07 B ,  G01R 33/032 ,  G02F 1/095

Fターム (13件)：

2G017AA01 ,  2G017AD12 ,  2G017AD14 ,  2G017AD15 ,  2G025AB10 ,  2G025AB13 ,  2G025AC06 ,  2H079AA03 ,  2H079BA02 ,  2H079CA11 ,  2H079EA09 ,  2H079EB18 ,  2H079KA05