特許

J-GLOBAL ID：200903008118447847

赤外線分析方法

発明者： 畑野 浩子
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (1件)： 山口 邦夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-320902
公開番号（公開出願番号）：特開平8-178841
出願日： 1994年12月22日
公開日（公表日）： 1996年07月12日
要約：

【要約】【目的】液体試料が微量であっても、また表面張力が小さな液体試料や、揮発性が高い液体試料であっても赤外線分析ができるようにした赤外線分析方法を提供する。【構成】液体試料を赤外線分析するための赤外線分析方法であって、光透過性に優れ成形容易な窓材1aの表面に凹部2を形成し、凹部2に液体試料5aを滴下収容した状態で赤外線分析を行うようにした。

請求項（抜粋）：

液体試料を赤外線分析するための赤外線分析方法であって、光透過性に優れ成形容易な板状窓材の表面に凹部を形成し、上記凹部に上記液体試料を滴下収容した状態で赤外線分析を行うようにしたことを特徴とする赤外線分析方法。