特許
J-GLOBAL ID：200903008129974784
自記分光光度計校正システム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
有我 軍一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-047399
公開番号（公開出願番号）：特開平7-167711
出願日： 1992年03月05日
公開日（公表日）： 1995年07月04日
要約：
【要約】【目的】本発明は、自記分光光度計校正システムに関し、ユーザには解らない方法で既知のサンプルの各測定前に装置を自動的に再校正することにより、各装置の精度および信頼性を向上し、より正確な測定値を得る装置を提供することを目的とする。【構成】振動回折格子を有する自記分光光度計に適用される校正システムであって、参照走査が実行されるときはいつも、吸光度基準を通しての第2の走査が自動的に実行され、得られたデータは回折格子の角度位置を波長に関係付ける装置係数を補正するのに用いられる。補正された係数は、この後直に未知サンプルの計測に用いられるように記憶される。吸光度基準として、ポリスチレンプレート32(近赤外計測用)と、このポリスチレンプレートの一部を覆うようにポリスチレンプレートに支持されたジジミウムプレート34(可視計測用)とを用いる。
請求項（抜粋）：
出口スリットと、回折格子が振動するときに前記出口スリットを通過する波長を走査する回折格子と、スペクトルの既知の波長で既知の吸光度ピークを示し、前記出口スリットを通過する光の光路中に選択的に配置可能な基準吸光度プレートと、前記出口スリットを通過してサンプルに達する光の強度を検出する検出手段と、を備えた分光光度計における自記分光光度計校正システムにおいて、(1) 前記出口スリットを通過する光の光路中から前記基準吸光度プレートを外した状態で、参照走査を実行するために回折格子を振動させるステップと、(2) ステップ(1)において出口スリットを通過する光の強度を、選択されたスペクトルに亘って分布された回折格子の角度増分の各角度増分ごとに、計測するステップと、(3) 前記基準吸光度プレートを前記出口スリットを通過する光の光路中に回動させるステップと、(4) 前記出口スリットを通過する光の光路中に前記基準吸光度プレートが存在する状態で、校正走査を実行するために前記回折格子を振動させるステップと、(5) ステップ(2)において出口スリットを通過して前記角度増分のそれぞれで前記基準吸光度プレートと光学的に接触する光の強度を求めるステップと、(6) ステップ(2)および(5)においてなされた計測から前記角度増分のそれぞれで、前記基準吸光度プレートの吸光度(log 1/R、但しRは反射率)を算出するステップと、(7) ステップ(6)において求められたデータから前記基準吸光度プレートについて生じる吸光度のピークの波長位置を求めるステップと、(8) ステップ(7)において求められたピークの波長位置、並びに、前記基準吸光度プレートの吸光度のピークが生じる既知の波長から、回折格子の角度位置を出口スリットに結びつける等式における補正された係数を算出するステップと、(9) 未知のサンプルの透過率または反射率を測定する際に、前記補正された係数を記憶するステップと、を入力信号に応答して自動的に実行する校正手段からなることを特徴とする自記分光光度計校正システム。
引用特許：
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