特許
J-GLOBAL ID：200903008178915920
形状処理方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
志賀 富士弥
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-114428
公開番号（公開出願番号）：特開平5-312509
出願日： 1992年05月07日
公開日（公表日）： 1993年11月22日
要約：
【要約】【目的】 溶接点を精度良く求めることができる形状処理方法を提供する。【構成】 レンジセンサ1により、断面輪郭形状を計測し座標点列として出力する。仮溝点検出部3により、その座標点列から仮溝点を検出する。周辺輪郭近似直線検出部4,5により、仮溝点を中心とする半径の異なる2つの円で挟まれた座標点列を最小自乗誤差直線で近似し、2つの周辺輪郭近似直線を求める。近傍通過判定部6,10により、その2つの近似直線が仮溝点の近傍を通過するか否か判定する。通過する場合は溝点検出部14により、通過しない場合は溝点近傍近似直線検出部9,13により溝点近傍近似直線を求めた後に溝点検出部14により、2つの近似直線の交点を計算し、溶接点である溝点とする。このように、ノイズに弱い微分操作を用いることなく、輪郭線を最小自乗近似誤差により精度良く求め、その上で輪郭線の交点から溶接点である溝点を精度良く求める。
請求項（抜粋）：
断面輪郭形状を計測してこれを座標点列として出力するセンサと、該座標点列から極大点を検出する手段と、該座標点列を最小自乗誤差直線で近似する手段と、与えられた点と直線の間の距離を計算する手段と、2直線の交点を計算する手段を用い、まず、センサの奥行き方向に距離が極大となる輪郭点を仮溝点Pとして該仮溝点Pから見てある方向になる輪郭点列を第1の輪郭点列、反対方向になる輪郭点列を第2の輪郭点列とし、次に、r<SB>1</SB><r<SB>2</SB>として該仮溝点Pを中心に半径r<SB>1</SB>,r<SB>2</SB>の2つの円C<SB>1</SB>,C<SB>2</SB>を描いた場合に両円に挟まれる領域に存在する前記第1の輪郭点列,第2の輪郭点列をそれぞれの最小自乗誤差直線L<SB>1</SB>,L<SB>2</SB>で近似し、次に、該2直線L<SB>1</SB>,L<SB>2</SB>がそれぞれ仮溝点Pの近傍を予め定められた距離以内で通過する否かを判定し、もし該直線L<SB>1</SB>が該仮溝点Pの近傍を通過すれば該直線L<SB>1</SB>を溝点近傍近似直線L<SB>1</SB>*とし、もし該直線L<SB>2</SB>が該仮溝点Pの近傍を通過すれば該直線L<SB>2</SB>を溝点近傍近似直線L<SB>2</SB>*とし、もし該直線L<SB>1</SB>が該仮溝点Pの近傍を通過しなければ該直線L<SB>1</SB>が近傍を通過する該第1の輪郭点列のうちで最も該仮溝点Pに近い点Q<SB>1</SB>を求めたのち該点Q<SB>1</SB>と該仮溝点Pの間に存在する断面輪郭点列を最小自乗誤差直線L<SB>1</SB>*で近似し、もし該直線L<SB>2</SB>が該仮溝点Pの近傍を通過しなければ該直線L<SB>2</SB>が近傍を通過する該第2の輪郭点列のうちで最も該仮溝点Pに近い点Q<SB>2</SB>を求めたのち該点Q<SB>2</SB>と該仮溝点Pの間に存在する断面輪郭点列を最小自乗誤差直線L<SB>2</SB>*で近似し、次に、該直線L<SB>1</SB>*,L<SB>2</SB>*の交点を溝点P*とすることを特徴とする形状処理方法。
IPC (2件)：
G01B 11/00
, B23K 9/127 508
