特許
J-GLOBAL ID：200903008187181921
X線撮影装置およびX線撮影方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
森本 義弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-020345
公開番号（公開出願番号）：特開平5-217689
出願日： 1992年02月06日
公開日（公表日）： 1993年08月27日
要約：
【要約】【目的】被写体の厚さが変化してもX線画像処理における計算精度を常に一定に保つ。【構成】被写体を計測する前に、X線に対して被写体と同じ吸収係数を持ち、厚さが段階的に変化する階段状のファントム6を透過したX線発生器1からのX線強度をX線検出器2により検出する。そして、この透過X線強度をファントム6のどの厚さ位置においても等しくなるように、制御部4により、X線発生器1に印加する管電流または検出器のサンプリング時間を変化させてファントム6の厚さに対する最適なX線の照射条件を決定して記憶しておく。被写体を撮影する際に、被写体の厚さを計測して被写体の厚さを入力することにより、被写体の厚さと最も近いファントム厚さを選択する。これにより、前もって測定した最適条件が選択されてX線画像の定量的測定における最も良いS/N比条件で被写体の撮影が行われ、被写体の厚さが変化しても精度の良い計測となる。
請求項（抜粋）：
X線を発生させるX線発生器と、被写体を透過した前記X線発生器からのX線を検出する複数個のX線検出器と、X線に対して前記被写体と同じ吸収係数を持つファントム材料を用いてファントム厚さに応じた最適X線強度またはサンプリング時間を測定して記憶し、前記被写体測定時に前記被写体の厚さが入力されてX線強度またはサンプリング時間を最適値に自動設定して前記被写体の撮影を行うように制御する制御部とを備えたX線撮影装置。
IPC (3件)：
H05G 1/30
, A61B 6/00 390
, G01N 23/04
