特許
J-GLOBAL ID：200903008218662028
電離圏の全電子含有量の測定システムおよびプロセス
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
志賀 正武 (外1名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-506348
公開番号（公開出願番号）：特表平11-509322
出願日： 1996年07月16日
公開日（公表日）： 1999年08月17日
要約：
【要約】この発明は、電離圏の全電子含有量の測定システムを提案している。このシステムは、衛星に搭載されVHFで送信される信号の拡散スペクトル送信機(11)と、地上に配置され前記VHF信号を受信して処理し電離圏の全電子含有量(TEC)を測定することを可能とする装置とを具備している。この発明は、前記全電子含有量の測定プロセスにも関連している。
請求項（抜粋）：
電離圏の全電子含有量を測定するためのシステムであって、 - 衛星(9)に搭載され、VHFで送信される可干渉性の拡散スペクトル信号の送信機(11)と、 - 地上に配され、前記VHF信号を受信して処理し、電離圏の全電子含有量(TEC)を単一の周波数を用いて測定することを可能とする装置(18)とを具備することを特徴とするシステム。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01R 29/24 Z
, G01V 3/00 Z
