特許
J-GLOBAL ID：200903008305188642
固体撮像素子の欠陥検出方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
尾川 秀昭
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-120148
公開番号（公開出願番号）：特開平5-292408
出願日： 1992年04月13日
公開日（公表日）： 1993年11月05日
要約：
【要約】【目的】 白キズと黒キズがペアを成す欠陥を複数種の欠陥パターンについて同時に欠陥することができ、従って欠陥検出時間が短くて済む固体撮像素子の欠陥検出方法を得る。【構成】 固体撮像素子からの画像信号のHメディアン処理したものとしないものとの差を求めてキズを検出し、白キズと黒キズとで異なる重み(値)を持ったキズの位置を示すマップをつくり、これに検出しようとする欠陥と同じパターンの空間フィルタを乗算処理し、それによって得たマップの一定値あるいはそれよりも大きい値のアドレスに欠陥があると判断する。
請求項（抜粋）：
固体撮像素子から出力された画像信号をHメディアン処理したものとしないものとの一方から他方を減算し、上記減算の結果から白キズと判断されるアドレスにある特定の値のフラグを、黒キズと判断されるアドレスに別の特定の値のフラグを立てたマップを作成し、上記マップに、検出しようとする欠陥パターンを有する空間フィルタを掛ける演算処理を施し、上記演算処理により得たマップに一定値又はそれ以上の値が存在したときそのアドレスに欠陥があると判定することを特徴とする固体撮像素子の欠陥検出方法
IPC (2件)：
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