特許
J-GLOBAL ID：200903008328492101
材料試験機
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
西田 新
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-257607
公開番号（公開出願番号）：特開平9-101249
出願日： 1995年10月04日
公開日（公表日）： 1997年04月15日
要約：
【要約】【課題】 ソフト的に2つの標点を追尾するレーザ非接触伸び計を備え、しかも、比較的安価で簡単な構成のもとに、伸びの大きな試験体の引張試験に際しても、その伸びを広い範囲にわたって高精度に計測することのできる、材料試験機を提供する。【解決手段】 固定側の掴み具4aに対して移動側の掴み具4bを離反させる向きに移動することにより、試験体Wに引張荷重を与える材料試験機において、レーザ非接触伸び計の照射光学系11やイメージセンサ13等からなるカメラユニットCを、2つの標点A1,A2の中点Cの移動に追随して移動させることにより、レーザ光照射領域の中心を常に2つの標点間の中点上に位置させ、2つの標点の追尾範囲を広げて伸びの計測範囲を広くする。
請求項（抜粋）：
固定側の掴み具とこれに対向して接近・離反自在の移動側の掴み具を備え、試験体の両端部分をこれらの一対の掴み具で把持した状態で、移動側の掴み具を固定側の掴み具に対して離反させる方向に移動させていくことにより、試験体に引張荷重を与える材料試験機において、試験体表面に対し、引張荷重の付与方向に所定長さにわたる広がりを持つレーザ光を照射する照射光学系と、そのレーザ光の試験体表面による散乱光を結像光学系を介して受光するイメージセンサと、そのイメージセンサの出力を用いて、試験体表面上で引張荷重の付与方向に互いに所定の距離を隔てた2つの標点に対応する領域からの散乱光に含まれるスペックルパターンの移動量を個別に算出し、その算出結果に基づいて標点間の伸びを算出する演算部とを有してなるレーザ非接触伸び計を備えるとともに、試験体の伸びに伴う上記2つの標点間の中点の移動に追随して、上記照射光学系、結像光学系およびイメージセンサからなるカメラユニットを同方向に移動させる移動機構を備えていることを特徴とする、材料試験機。
IPC (3件)：
G01N 3/06
, G01B 11/16
, G01N 3/08
G01N 3/06
, G01B 11/16
, G01N 3/08
