特許

J-GLOBAL ID：200903008355917319

対象物の組成分析方法および装置

発明者： 佐藤 克利 ,  川崎 智 ,  近藤 正弘
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 富田 和子
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-134033
公開番号（公開出願番号）：特開平8-327525
出願日： 1995年05月31日
公開日（公表日）： 1996年12月13日
要約：

【要約】【目的】CT装置により撮影したCT画像から、容易に被検査体の組成分析を行なう手段を提供すること。【構成】複数構成物質からなる対象物に対し複数方向から放射線を照射し、各方向において対象物を透過した放射線を検出して得られるデータに対して像再構成処理を行ない、断面画像を構成する各画素に対する線吸収係数を各画素毎に求め、さらに、該線吸収係数に一意に対応する密度を各画素毎に求め、対象物を、各画素に一意に対応するように、3次元の体積要素に分割することを想定したとき、ある密度を有する画素に対応する、体積要素の数および体積要素1個の体積量を求めておき、前記体積要素の数と、前記体積要素1個の体積量とを乗じて、前記ある密度に対する体積を求めていき、密度をパラメータとしたとき、該パラメータの変化に対する体積の分布状態を示す、密度スペクトルを求める。

請求項（抜粋）：

複数の構成物質からなる対象物に対して複数方向から放射線を照射し、各方向において、対象物を透過した放射線を検出して得られるデータに対して像再構成処理を行ない、対象物の断面画像を構成する各画素に対する線吸収係数を各画素毎に求め、さらに、該線吸収係数に一意に対応する密度を各画素毎に求め、対象物を、各画素に一意に対応するように、3次元の体積要素に分割することを想定したとき、ある密度を有する画素に対応する、体積要素の数、および、体積要素1個の体積量を求めておき、前記体積要素の数と、前記体積要素1個の体積量とを乗じて、前記ある密度に対する体積を求めていき、密度をパラメータとしたとき、該パラメータの変化に対する体積の分布状態を示す、密度スペクトルを求める対象物の組成分析方法。

IPC (3件)：

G01N 9/24 ,  G06T 1/00 ,  G06T 7/00

FI (3件)：

G01N 9/24 B ,  G06F 15/62 390 B ,  G06F 15/62 400

引用特許：

出願人引用 (3件)

• 特開昭61-156482
  
• 特開平4-096875
  
• 特開平4-369460