特許
J-GLOBAL ID:200903008435848261

金属インタ-コネクトでのエレクトロマイグレ-ション寿命を増加させる方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 矢野 敏雄 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-375124
公開番号(公開出願番号):特開2000-195860
出願日: 1999年12月28日
公開日(公表日): 2000年07月14日
要約:
【要約】【課題】 金属インターコネクトでのエレクトロマイグレーション寿命を増加させる方法【解決手段】 イオン化金属プラズマ物理蒸着(IMP)によりライナーを堆積させ、かつライナーの上に金属インターコネクトを堆積させ、その際、ライナーが金属インターコネクトのグレインの角度分布を低減して、エレクトロマイグレーション寿命を増加させる。
請求項(抜粋):
金属インターコネクトでのエレクトロマイグレーション寿命を増加させる方法において、イオン化金属プラズマ物理蒸着(IMP)によりライナーを堆積させ、かつライナーの上に金属インターコネクトを堆積させ、その際、ライナーが金属インターコネクトのグレインの角度分布を低減して、エレクトロマイグレーション寿命を増加させることを特徴とする、金属インターコネクトでのエレクトロマイグレーション寿命を増加させる方法。

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