特許
J-GLOBAL ID：200903008445448709
視覚的に判らない一定の与えられた材料を内含する1つの物体の存在を検出するための方法及び装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
中村 稔 (外6名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-505608
公開番号（公開出願番号）：特表平9-501230
出願日： 1994年07月13日
公開日（公表日）： 1997年02月04日
要約：
【要約】本発明の方法は、光イオン化閾値を有するエネルギースペクトラムに相当する平行なX線ビーム(21)を用いて対象(24)に照射し、そしてその対象を通過した後の透過ビームを検出することから成る。この方法は、エネルギーの関数としてX線の減衰又は透過を示す連続関数が決定され、光イオン化閾値に相当するエネルギーレベルの近傍で連続する減衰又は透過を示す曲線により物質に固有な変曲点の存在が確認されることに特徴がある。用途としては、例えば、空港での荷物の検査に使用される。
請求項（抜粋）：
1つの物体の中に含まれ特徴的な光電離閾値を示す少なくとも1つの材料の存在を検出するための方法において、 - 前記電離閾値を含む1つのエネルギー範囲に対応するX線平行ビームにより物体を照射し、 - この物体を横切って通過した後に透過されたビームを検出する方法であって、さらに - エネルギーに応じてのX線の減衰又は透過を表わす連続関数を決定すること、及び - 前記光電離閾値に対応するエネルギーの付近で、減衰又は透過を表わす前記連続関数を表わす曲線上にて前記材料の存在の特徴である変曲点の存在を探知すること、 を特徴とする方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
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