特許

J-GLOBAL ID：200903008452014340

光学式変位測定方法およびこの方法を用いた光学式変位計

発明者： 高田 裕司 ,  松田 啓史 ,  山根 俊樹 ,  杉本 義彦
出願人/特許権者： 松下電工株式会社
代理人 (1件)： 中井 宏行
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-313533
公開番号（公開出願番号）：特開平5-126570
出願日： 1991年10月31日
公開日（公表日）： 1993年05月21日
要約：

【要約】【目的】光学式変位計において、光学ヘッドを近接させて測定を行う場合でも、互いの光ビームの干渉を防止して測定誤差を低減させる。【構成】対象物に対して複数の光学ヘッドH1,H1’を1台づつ順次切り換えて変調駆動させ、これらの光学ヘッドH1,H1’より出力される位置検知信号を順次信号処理回路Aに入力させて演算処理することによって、各々の光学ヘッドH1,H1’毎に基準位置に対する変位量a,bを算出し、このようにして得られた各変位量a,bに基づいて測距を行うようにされている。

請求項（抜粋）：

対象物に対して複数の光学ヘッドを1台づつ順次切り換えて変調駆動させ、これらの光学ヘッドより出力される位置検知信号を順次信号処理回路に入力させて演算処理することによって、各々の光学ヘッド毎に基準位置に対する変位量を算出し、このようにして得られた各変位量に基づいて測距を行うようにしたことを特徴とする光学式変位測定方法。

IPC (2件)：

G01C 3/06 ,  G01B 11/22

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭63-222202
  
• 特開昭59-190680