特許
J-GLOBAL ID：200903008489174258
光パルス試験器
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
穴見 健策
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-120441
公開番号（公開出願番号）：特開2001-305017
出願日： 2000年04月21日
公開日（公表日）： 2001年10月31日
要約：
【要約】【課題】 光ファイバの損失特性の測定波形を所望の精度のものを得る際にその測定回数を少なくして測定時間を減少させる。【解決手段】 光パルス発生部10は所定の間隔で所定の波長の光パルスを繰り返し発生する。戻り光検出部20は光パルス発生部10からの光パルスを光ファイバ1に入射して、その戻り光を検出して電気信号に変換する。波形処理部30は戻り光検出部20からの検出信号から光ファイバの損失特性を表わす測定波形を形成する。その際、分割移動平均部50は平均化処理回路302により加算平均されて対数変換回路304により対数変換された測定波形をさらにSN比に応じて複数の領域に分割して、それぞれの領域の各点についてその波形に沿って移動平均処理をする。この結果、測定波形はSN比が改善されて、加算平均のみの処理と比較して遠端付近の波形がより明確な波形を得ることができ、その結果が表示部40に表示される。
請求項（抜粋）：
被試験対象の光ファイバ(1)にその一端部から所定の光パルスを入射して、その戻り光の信号レベルを測定して光ファイバの損失特性を試験する光パルス試験器において、所定の光パルスを所望の間隔にて所定の回数繰り返して発生する光パルス発生手段(10)と、該光パルス発生手段からの光パルスを光ファイバに入射し、その戻り光を検出して電気信号に変換する戻り光検出手段(20)と、該戻り光検出手段からの検出信号に基づいて光ファイバの距離に応じた損失特性を表わす測定波形を形成する波形処理手段(30)と、該波形処理手段によって形成した測定波形が表示される表示手段(40)とを有し、前記波形処理手段は、前記戻り光検出手段からの検出信号を所定のタイミングでサンプリングして、それぞれ前記光パルス発生手段での光パルスの繰り返し回数に応じて加算平均した測定波形を形成する平均化処理手段(302)と、該平均化処理手段によって形成した測定波形をあらかじめ設定したSN比に基づいて複数の領域に分割して、それぞれの領域毎にその波形の各点について波形に沿った複数のデータを用いて移動平均処理をする分割移動平均手段(50)とを含むことを特徴とする光パルス試験器。
IPC (4件)：
G01M 11/02
, G01M 11/00
, H04B 17/00
, H04B 10/08
G01M 11/02 J
, G01M 11/00 R
, H04B 17/00 M
, H04B 9/00 K
2G086CC03
, 2G086KK01
, 5K002BA05
, 5K002EA06
, 5K002FA01
, 5K042CA10
, 5K042DA17
, 5K042EA03
, 5K042FA15
, 5K042FA25
, 5K042GA12
, 5K042HA01
