特許

J-GLOBAL ID：200903008501608579

自動化試験方法

発明者： 吉田 哲也
出願人/特許権者： 富士電機株式会社
代理人 (1件)： 山口 巖 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-011044
公開番号（公開出願番号）：特開2000-206207
出願日： 1999年01月19日
公開日（公表日）： 2000年07月28日
要約：

【要約】【課題】 校正,試験の作業時間を短縮し、作業効率,不良解析効率などを向上させる。【解決手段】 アナログ機器4のプロセッサCPUをインタフェース装置6を介して所定の校正・試験機能を持つパソコン9に直接接続するとともに、マルチプレクサ5を介して電圧/電流発生器2,マルチメータ3などの外部機器を接続し、かつパソコン9とマルチプレクサ5,外部機器2,3間をそれぞれ接続することで、校正,試験のための時間を短縮し、高効率化を図る。

請求項（抜粋）：

アナログ/ディジタル変換器,ディジタル/アナログ変換器を含む外部機器とのインタフェース部を備え、ワンチップマイクロコンピュータ(ワンチップマイコン)からなるアナログ機器の、前記ワンチップマイコンのプロセッサを、所定のインタフェースを介して所定の校正・特性試験機能を備えたパーソナルコンピュータ(パソコン)に直接接続するとともに、マルチプレクサを介してアナログ/ディジタル変換器またはディジタル/アナログ変換器を含む外部機器を接続し、かつ、パソコンとマルチプレクサ,外部機器間をそれぞれ接続することにより、このパソコンからマルチプレクサを介してアナログ機器の校正・特性試験の自動化を可能にしたことを特徴とする自動化試験方法。

IPC (2件)：

G01R 31/316 ,  H03M 1/10

FI (3件)：

G01R 31/28 C ,  H03M 1/10 C ,  H03M 1/10 D

Fターム (12件)：

2G032AA09 ,  2G032AB01 ,  2G032AD01 ,  2G032AE12 ,  2G032AL00 ,  5J022AA01 ,  5J022AB01 ,  5J022AC04 ,  5J022AC05 ,  5J022BA01 ,  5J022CF08 ,  5J022CG01