特許
J-GLOBAL ID:200903008535398409

熱分析におけるガスサンプリング方法及びその装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 阿仁屋 節雄 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-190334
公開番号(公開出願番号):特開平8-054325
出願日: 1994年08月12日
公開日(公表日): 1996年02月27日
要約:
【要約】【目的】 ガスサンプリングを常に所望の有効なタイミングで効率よく行えるようにした熱分析におけるガスサンプリング方法及びその装置を提供する。【構成】 TGーDTA部1によってTGーDTA分析を行う過程において、試料室12b内の試料12bから放出されるガスを、ロータリーポンプ25によって吸引することによりガス採取管4を通じてガスサンプリング部2のガス吸着管21a,21b,21c,21dに吸着採取する。その場合、どのガス吸着管にいつ採取するかのタイミングを、試料の温度が特定の値になったとき、あるいは、示差熱変化が特定の状態になったとき、もしくは、減量率が特定の値になったときを中央制御装置によって検知して電磁弁22a,22b,22c,22dのいずれかを開くことにより制御する。
請求項(抜粋):
試料の温度を変化させたときに生ずる試料の熱的変化を測定する熱分析過程において試料から放出されるガスをサンプリングする熱分析におけるガスサンプリング方法において、前記ガスサンプリングを、試料の温度が特定の1又は2以上の温度となったときに行うようにしたことを特徴とする熱分析におけるガスサンプリング方法。
IPC (2件):
G01N 1/22 ,  G01N 25/20
引用特許:
審査官引用 (1件)
  • 熱分析装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平5-087599   出願人:株式会社日立製作所

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