特許
J-GLOBAL ID:200903008557602948

貯炭残量監視装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 光石 俊郎 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-286436
公開番号(公開出願番号):特開平10-132511
出願日: 1996年10月29日
公開日(公表日): 1998年05月22日
要約:
【要約】【課題】 貯炭場の残炭量を正確に質量ベースで計測すること。【解決手段】 貯炭場に光送受波器1を配し、光パルス2を送波すると共に反射した光パルスの受信に基づいて石炭3の貯層高さを計測し、また、同貯炭場に光よりも波長の長い電磁波6を送受波する電磁波送受波器5を配し、電磁波6を送波すると共に反射した電磁波の受信に基づいて貯層してある石炭3の内部の密度を計測する。体積計算機4により光送受波器1を縦方向及び横方向に走査して石炭3の貯層範囲全体について高さを計測し、走査方向と高さから体積を計算する。密度分布計算機7により電磁波送受波器5を縦方向及び横方向に走査して石炭3の貯層範囲全体について密度を計測し、質量計算機8により体積に各位置での石炭密度を掛け合わせて質量ベースの貯層量を求める。
請求項(抜粋):
貯炭場の石炭に向けて光パルスを発射すると共に反射した光パルスを受波する光送受波器と、前記光パルスの発射時刻と受波時刻の時間差に基づいて貯炭層の高さを計測する手段と、光よりも波長の長い電磁波を前記貯炭場の石炭に向けて発射すると共に反射した電磁波を受波する電磁波送受波器と、前記電磁波の反射強度及び発射時刻と受波時刻の時間差に基づいて貯炭層内部の密度を計測する手段と、前記光パルスと電磁波の発射方向を貯炭層全体に走査することにより貯炭層全体について高さ及び密度を計測し、発射方向、高さ及び密度から質量ベースの貯炭残量を求める手段を具備することを特徴とする貯炭残量監視装置。

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