特許

J-GLOBAL ID：200903008651078306

測定プログラム作成装置

発明者： 伊藤 泉 ,  石川 文男
出願人/特許権者： 株式会社ニコン
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-234170
公開番号（公開出願番号）：特開平10-078317
出願日： 1996年09月04日
公開日（公表日）： 1998年03月24日
要約：

【要約】【課題】三次元測定機などで、部品の形状測定を短時間に効率よく行うために、測定機上に設置した複数の部品を一括して自動測定する測定プログラムを、短時間に効率よく作成する装置を提供する。【解決手段】複数の被測定物品の測定において、個々の被測定物品の測定プログラムおよび検査図面データを用いて、一括して測定する新たな測定プログラムを生成する。

請求項（抜粋）：

複数の被測定物品の、それぞれの測定順および配置を表す、それぞれの測定配置データを生成する手段と、前記複数の被測定物品のそれぞれの測定経路データを含む、それぞれの測定プログラムおよび、前記それぞれの測定配置データから、一括して測定する新たな測定プログラムを作成する手段を備えた、測定プログラム作成装置。

IPC (3件)：

G01B 21/20 ,  G06F 9/06 530 ,  G06F 17/50

FI (3件)：

G01B 21/20 Z ,  G06F 9/06 530 A ,  G06F 15/60 680 D