特許
J-GLOBAL ID：200903008661752196
部品評価系
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山崎 行造 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-067857
公開番号（公開出願番号）：特開平7-110220
出願日： 1991年03月07日
公開日（公表日）： 1995年04月25日
要約：
【要約】【目的】 機械部品から高解像度3次元の表面メッシュ・データを収集すべく動作する、部品評価に用いられる系を開示する。【構成】 この系には、機械部品を保持するための、多重次元に運動できる留め具が含まれる。機械部品上の光パターンの衝突を検出し、表面データを発生するための像感知カメラと共に、構造化された光パターン射出投射器が用意されている。1組のソフトウエア・ツールによって、データが解析されて、数値的、若しくは数量的な部品解析が行われ、更に、データが表示されて、製品及び製造工程改善のための直覚的乃至は質的な解析を可能にする。
請求項（抜粋）：
不定の歪みを有する評価部品の総ての表面を推定する汎用の部品評価系であって、表示装置と、演算装置と、手動データ入力装置とから成り、該中央演算装置が部品の設計データを受け取るべく結合されている3次元ワークステーションと、該ワークステーションに接続される計測学セルと、部品を支持し、位置決めするための多軸可動位置決め装置と、構造化光パタ-ンを部品に向けるための、該位置決め装置上に取り付けられる構造化光プローブと、構造化光パタ-ンの部品上への衝突を観察して、評価のために表面位置データを取得するための、該位置決め装置上に取り付けられる像取得装置と、該表面位置データを受け取り、部品表面と部品表面設計データによって表される表面との相対的位置を決定するための装置とから成る、汎用部品評価系。
IPC (3件)：
G01B 11/24
, G01B 11/00
, G06T 7/00
