特許
J-GLOBAL ID:200903008730464424

半導体レーザ

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 高橋 敬四郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-194779
公開番号(公開出願番号):特開平9-232691
出願日: 1996年07月24日
公開日(公表日): 1997年09月05日
要約:
【要約】【課題】 基板とクラッド層とが格子不整合を有する半導体レーザに関し、クラッド層に禁制帯幅の大きな、III族元素としてAlを含むIII-V族半導体を用いた1μm帯用半導体レーザを提供することである。【解決手段】 第1の格子定数を有し、主表面を有するIII-V族半導体の基板と、前記主表面上に配置され、前記第1の格子定数と較べ、0.5%以上異なる第2の格子定数を有するIII-V族半導体のクラッド層と、活性層と、活性層の両側に配置され、III族元素としてAlを含み、活性層より屈折率の低い光閉じ込め層とを含み、前記クラッド層上に配置されたIII-V族半導体の光伝搬層と、前記主表面と前記クラッド層との間に配置され、前記第1の格子定数と前記第2の格子定数の間で徐々に格子定数が変化する組成勾配層を含み、表面にクロスハッチ状の段差を有するIII-V族半導体の格子緩和層と、前記格子緩和層と前記クラッド層との間に配置され、V族元素として燐を含むIII-V族半導体の中間層とを有する半導体レーザを提供する。
請求項(抜粋):
第1の格子定数を有し、主表面を有するIII-V族半導体の基板と、前記主表面上に配置され、前記第1の格子定数と較べ、0.5%以上異なる第2の格子定数を有するIII-V族半導体のクラッド層と、活性層と、活性層の両側に配置され、III族元素としてAlを含み、活性層より屈折率の低い光閉じ込め層とを含み、前記クラッド層上に配置されたIII-V族半導体の光伝搬層と、前記主表面と前記クラッド層との間に配置され、前記第1の格子定数と前記第2の格子定数の間で徐々に格子定数が変化する組成勾配層を含み、表面にクロスハッチ状の段差を有するIII-V族半導体の格子緩和層と、前記格子緩和層と前記クラッド層との間に配置され、V族元素として燐を含むIII-V族半導体の中間層とを有する半導体レーザ。
IPC (2件):
H01S 3/18 ,  H01L 33/00
FI (2件):
H01S 3/18 ,  H01L 33/00 B

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