特許

J-GLOBAL ID：200903008900117783

スリツトランプマイクロスコープ

発明者： 佐竹 英二 ,  小田 治雄 ,  富岡 研
出願人/特許権者： 株式会社ニコン
代理人 (1件)： 三品 岩男 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-190249
公開番号（公開出願番号）：特開平5-031078
出願日： 1991年07月30日
公開日（公表日）： 1993年02月09日
要約：

【要約】【目的】撮影部位と撮影方法の組合せを、設定することにより、容易に適正露出を決定可能な、スリットランプマイクロスコープを提供する。【構成】撮影しようとする被検眼の部位と撮影方法の組合せを指定するマトリクス状のスイッチを有する撮影条件指定手段と、前記指定された撮影条件に基づいて、適正な露光量を算定する適正露光量算定手段とを有する。

請求項（抜粋）：

被検眼を照明するための照明光学系と、前記照明された被検眼を観察するための観察光学系と、露光量を制御する露出制御装置を有する撮影装置とを有するスリットランプマイクロスコープにおいて、前記露出制御装置が、撮影条件を指定するための、撮影しようとする被検眼の部位と撮影方法の組合せに対応するスイッチ群をマトリクス状に配置した撮影条件指定手段と、前記指定された撮影条件に基づいて、適正な露光量を算定する適正露光量算定手段とを有することを特徴とするスリットランプマイクロスコープ。