特許

J-GLOBAL ID：200903008901584750

分光分析装置

発明者： 横山 一成
出願人/特許権者： 株式会社堀場製作所
代理人 (1件)： 藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-306378
公開番号（公開出願番号）：特開2001-124627
出願日： 1999年10月28日
公開日（公表日）： 2001年05月11日
要約：

【要約】【課題】 安価にて製造できると共に信頼性を向上し、かつ高速測定が可能である分光分析装置を提供する。【解決手段】 光源部2からの光を分光素子4を介して光検出器8において検出するようにした光学系を有する分光分析装置1において、前記光源部2が光源L1 〜L5 からの少なくとも特定波長λ1 〜λ5 を含む光をそれぞれの波長に対応する異なる位置から出射する機構を有し、前記光学系が、分光素子4によって各出射位置に対応する特定波長λ1 〜λ5 の光を同一光路L上に集めるように各波長の光の出射位置を定めてなり、かつ、この特定波長λ1 〜λ5 の光のみを試料9または光検出器8に照射させるスリット6を有し、前記光源部2が各特定波長λ1 〜λ5 の光を各々定められた出射位置から順次出射して試料9または光検出器8に照射することにより分光分析する。

請求項（抜粋）：

光源部からの光を分光素子を介して光検出器において検出するようにした光学系を有する分光分析装置において、前記光源部が光源からの少なくとも特定波長を含む光をそれぞれの波長に対応する異なる位置から出射する機構を有し、前記光学系が、分光素子によって各出射位置に対応する特定波長の光を同一光路上に集めるように各波長の光の出射位置を定めてなり、かつ、この特定波長の光のみを試料または光検出器に照射させるスリットを有し、前記光源部が各特定波長の光を各々定められた出射位置から順次出射して試料または光検出器に照射することにより分光分析することを特徴とする分光分析装置。

IPC (3件)：

G01J 3/10 ,  G01N 21/01 ,  G01N 21/27

FI (3件)：

G01J 3/10 ,  G01N 21/01 D ,  G01N 21/27 Z

Fターム (32件)：

2G020AA03 ,  2G020BA02 ,  2G020CA02 ,  2G020CB04 ,  2G020CB23 ,  2G020CB25 ,  2G020CB26 ,  2G020CB36 ,  2G020CB42 ,  2G020CC02 ,  2G020CC42 ,  2G020CC48 ,  2G020CD22 ,  2G020CD32 ,  2G059AA01 ,  2G059AA05 ,  2G059EE01 ,  2G059EE12 ,  2G059FF06 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059GG03 ,  2G059GG07 ,  2G059GG10 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH03 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ14 ,  2G059JJ17 ,  2G059KK01