特許

J-GLOBAL ID：200903008943750471

スペクトル測定による分析装置

発明者： 服部 健
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 縣 浩介
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-210003
公開番号（公開出願番号）：特開平5-026827
出願日： 1991年07月25日
公開日（公表日）： 1993年02月02日
要約：

【要約】【目的】 各種のスペクトル測定による分析において、異元素間のピークの干渉を避け、データ解析を容易にすることを目的とする。【構成】 各元素のスペクトルピークの強さと位置についてのデータベースと、元素を指定すると上記データベースから指定された元素のスペクトル像を表示する表示手段と、測定エネルギー範囲を指定する手段と、指定したエネルギー範囲についてスペクトル測定を行わせる制御装置を備えた。

請求項（抜粋）：

各元素のスペクトルピークの強さと位置についてのデータベースと、元素を指定すると上記データベースから指定された元素のスペクトル像を表示する表示手段と、測定エネルギー範囲を指定する手段と、指定したエネルギー範囲についてスペクトル測定を行わせる制御装置を備えたことを特徴とするスペクトル測定による分析装置。