特許
J-GLOBAL ID：200903008963799337
ATMセル試験装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
磯村 雅俊 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-062425
公開番号（公開出願番号）：特開平9-261228
出願日： 1996年03月19日
公開日（公表日）： 1997年10月03日
要約：
【要約】【課題】 多数のATMスイッチを用いないで任意量のATMセル転送遅延揺らぎを生成することが可能なATMセル試験装置を提供すること。【解決手段】 ATMセルの転送品質を試験する本発明のATMセル試験装置は、ATMセル送信時に、ATMを一時保持するバッファメモリ211と、該ATMセルの入力と同期してバッファメモリに書き込むアドレスを発生する書き込みアドレス発生回路212と、前記バッファメモリからATMセルを読み出すアドレスを発生する読み出しアドレス発生回路213と、予め指定されたATMセル転送遅延揺らぎの平均時間間隔に基づいて読み出しのタイミング信号を発生して前記読み出しアドレス発生回路に送出する揺らぎ時間発生回路214とからなるATMセル転送遅延揺らぎを発生させる手段を有する。
請求項（抜粋）：
ATMセルを通過させてATMセルの転送品質を試験するATMセル試験装置において、予め指定されたATMセル転送遅延揺らぎの平均時間間隔に基づいてATMセル転送遅延揺らぎを発生させる手段を設けたことを特徴とするATMセル試験装置。
IPC (3件)：
H04L 12/28
, H04L 12/26
, H04Q 3/00
H04L 11/20 D
, H04Q 3/00
, H04L 11/12
