特許

J-GLOBAL ID：200903008989122971

テストデータ・ジエネレータ方式

発明者： 橋本 比呂志
出願人/特許権者： 日本電気コンピユータシステム株式会社
代理人 (1件)： 内原 晋
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-185970
公開番号（公開出願番号）：特開平5-035532
出願日： 1991年07月25日
公開日（公表日）： 1993年02月12日
要約：

【要約】【目的】予め定義された形式に従ってパラメータを入力することにより、汎用性を有し、効率的なテストデータを自動的に作成する。【構成】テストデータを作成する為の条件を指示するパラメータファイルを読み込み(103)、この内容を解析する(104)。次に、解析結果に基づいてレコードを構成するエリアごとにテストデータを発生させ(105)、更に、合成して必要とするレコードフォーマット形式でテストレコードを作成する(106)。そして、これを指定されたファイルに書き込む(107)。

請求項（抜粋）：

プログラムをテストする際に必要となるテストデータを自動的に作成するテストデータ・ジェネレータ方式であって、前記テストデータを作成する為の基本的条件を指示するパラメータファイルを読み込む第1のステップと、読み込んだパラメータの内容を解析する第2のステップと、解析結果に基づきレコードを構成するエリアごとにテストデータを発生させる第3のステップと、前記エリアごとに発生させたテストデータを合成し必要とするレコードフォーマット形式でテストレコードを作成する第4のステップと、作成した前記テストレコードを指定されたファイルに書き込む第5のステップとを備えることを特徴とするテストデータ・ジェネレータ方式。