特許

J-GLOBAL ID：200903008998666143

被検出部材、それの処理装置ならびに処理方法

発明者： 大嶋 敏夫 ,  西田 雅人 ,  大橋 邦敏 ,  早川 賢一
出願人/特許権者： 日立マクセル株式会社 ,  日本クレスタ株式会社
代理人 (1件)： 武 顕次郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-267507
公開番号（公開出願番号）：特開平6-292782
出願日： 1993年10月26日
公開日（公表日）： 1994年10月21日
要約：

【要約】【目的】 所望の位置が確実に検知でき、処理効率の高い処理装置を提供する。【構成】 赤外線を照射することによって蛍光を発する蛍光塗料を被検出部材30の検出位置に塗布して潜像のマーキング部31を形成するマーキング部形成手段32と、そのマーキング部31を形成した被検出部材30を搬送する搬送手段33と、被検出部材30の搬送経路上に配置され、マーキング部31に赤外線を照射する発光素子34と、マーキング部31から発せられる蛍光を受光する受光素子35とを有している位置検出手段36と、その受光素子35からの位置検出信号に基づき被検出部材30に対して所定の処理を行う処理手段37とを備えていることを特徴とする。

請求項（抜粋）：

赤外線を照射することによって蛍光を発する蛍光塗料を検出位置に塗布して潜像のマーキング部を形成したことを特徴とする被検出部材。