特許
J-GLOBAL ID：200903009001631244
自動テストハンドラー用ピック・プレース装置
発明者：
出願人/特許権者：
,
代理人 (1件)：
佐藤 隆久 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-345638
公開番号（公開出願番号）：特開平6-027193
出願日： 1992年12月01日
公開日（公表日）： 1994年02月04日
要約：
【要約】【目的】 あるトレイから電子部品をピックし、それを水平面上に移動させ別のトレイに搬送し、別のトレイのあらかじめ決まった位置に電子部品をプレースし、テストしたり選別する自動テストハンドラ-用ピック・プレース装置を提供する。【構成】 ピック・プレース装置は、真空管によって生じる吸引力により、電子部品44をトレイ42からピックする複数の吸い込み口や、複数の吸い込み口をスライドさせながら水平面方向に搭載させるガイドフレーム、また電子部品44を或るトレイ42からピックし、それを別のトレイにプレースする吸い込み口に上下運動を与える上下手段や、ピック・プレース28のプロセスの間、あるトレイと別のトレイとの間のスペースの違いを調節するためのスペース調節機構等を有する。
請求項（抜粋）：
あるトレイから電子部品をピックし、それを水平面上に移動させ、別のトレイにプレ-スするための電子部品自動テストシステムに関して、自動テストハンドラ-にて用いられるピック・プレ-ス装置であり、真空によって生じる吸引力により、前記電子部品を前記の或るトレイからピックし、それを水平面上の別の位置に移動させ、前記の別のトレイにプレースする複数の吸い込み口、前記複数の吸い込み口を摺動させながら水平面方向に搭載させるガイドフレーム、前記電子部品を前記の或るトレイからピックし、それを前記の別のトレイにプレースする前記の吸い込み口に上下運動を与える上下手段、上記のピック・プレースのプロセスの間、前記の或るトレイと前記の別のトレイとの間のスペ-スの違いを調節するためのスペ-ス調節機構から構成される、自動テストハンドラ-用ピック・プレ-ス装置。
IPC (3件)：
G01R 31/26
, B65G 47/91
, H01L 21/68
