特許
J-GLOBAL ID：200903009003555022
ガスクロマトグラフ質量分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
西岡 義明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-045755
公開番号（公開出願番号）：特開平10-239279
出願日： 1997年02月28日
公開日（公表日）： 1998年09月11日
要約：
【要約】【課題】 例えば残留農薬の分析のような特定化合物の検出、確認の分析では、従来GCで測定後、定量結果を確認し、ターゲット化合物の濃度が一定値を越えたサンプルについて再度、GC/MS(スキャン)で分析するという手順がとられているが、再測定にあっては分析の開始から終了までマススペクトルを採取している。このためサンプルに含まれる夾雑物に由来して、質量分析部のイオン源等が汚染し易く、夾雑物のイオンにより検出器が劣化しやすく、また測定データが膨大になっていた。【解決手段】GC/MSスキャンモードでの測定時に、ターゲット化合物の溶出時間のみマススペクトルの測定を行う装置を提供する。すなわち本発明のガスクロマトグラフ質量分析装置は、マススペクトル測定時間を設定するウインドウ設定部15と質量分析部の制御部81を備えてなり、当該制御部がウインドウ設定部に設定された時間の間だけマススペクトルを測定するように質量分析部8を制御することを特徴とする。
請求項（抜粋）：
ガスクロマトグラフ質量分析装置において、マススペクトル測定を開始する時刻WSと当該測定を終了する時刻WEを設定するウインドウ設定装置と質量分析計の制御部を備えてなり、時刻WSに当該ウインドウ設定装置からの信号を受けて質量分析計の当該制御部がマススペクトルを測定するように質量分析部を制御し、また時刻WEに当該ウインドウ設定装置からの信号を受けて質量分析計の当該制御部がマススペクトル測定を終了するように質量分析部を制御することを特徴とするガスクロマトグラフ質量分析装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 27/62 C
, G01N 30/72 A
