特許
J-GLOBAL ID:200903009053491424

パタ-ン検出装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 長谷川 芳樹 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-044563
公開番号(公開出願番号):特開2001-236490
出願日: 2000年02月22日
公開日(公表日): 2001年08月31日
要約:
【要約】【課題】 小型に構成できるパターン検出装置を提供する。【解決手段】 パターン検出装置10は、プリズム12と光学部品14とCCD16と拡散光源18とを備えて構成される。光学部品14は、光透過性で棒状の形状を有する複数のコアを略平行に配列するとともに複数のコアそれぞれの間隙に光吸収材を満たしてなり、上記複数のコアそれぞれと垂直に交差するように光入射面と光出射面とを形成して構成され、光入射面に対して垂直に入射する光のみを伝搬させて光出射面から出射する。拡散光源18から発せられる光の少なくとも一部はプリズム12の接触面12aのうち被測定対象の表面の非接触部分において全反射するとともにプリズム12の光出射面から垂直に出射され、光学部品14の光入射面垂直に入射する。
請求項(抜粋):
被測定対象の表面に存する凹凸パタ-ンを検出するパタ-ン検出装置において、光を発する光源と、前記被測定対象の表面を接触させる接触面と、前記接触面と所定の角度をなして形成される光入射面及び光出射面とを有するプリズムと、光入射面と前記光入射面と対向して形成される光出射面とを有し、前記光入射面に所定の入射角で入射する光を前記光出射面まで伝搬させて前記光出射面から出射させる光フィルタ部品と、前記光フィルタ部品の光出射面から出射される光を光イメージとして撮像する撮像素子とを備え、前記光源は、当該光源から発せられる光の少なくとも一部が、前記プリズムの光入射面から入射して前記接触面のうち前記被測定対象の表面の非接触部分において全反射するとともに前記プリズムの光出射面から出射されるように配置され、前記光フィルタ部品は、前記光源から発せられ、前記プリズムの光入射面から入射し、前記接触面のうち前記被測定対象の表面の非接触部分において全反射し、前記プリズムの光出射面から出射される光のうち少なくとも一部が当該光フィルタ部品の光入射面に前記所定の入射角で入射するように配置されていることを特徴とするパターン検出装置。
IPC (2件):
G06T 1/00 ,  A61B 5/117
FI (3件):
G06F 15/64 320 C ,  A61B 5/10 322 ,  G06F 15/64 G
Fターム (8件):
4C038FF01 ,  4C038FG01 ,  5B047AA25 ,  5B047BB04 ,  5B047BC04 ,  5B047BC07 ,  5B047BC08 ,  5B047BC11

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