特許
J-GLOBAL ID：200903009102469723
半導体集積回路
発明者：
出願人/特許権者：
,
代理人 (1件)：
玉村 静世
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-295762
公開番号（公開出願番号）：特開平8-136622
出願日： 1994年11月04日
公開日（公表日）： 1996年05月31日
要約：
【要約】【目的】 本発明の目的は、内部用電源回路の故障箇所検出の容易化を図ることにある。【構成】 複数の内部用電源回路212〜221の出力電圧が、それぞれ互いに異なるバウンダリスキャン素子に対してそれの動作用電源として供給され、且つ、内部用電源回路212〜221の故障診断情報の外部出力のための初期状態として、バウンダリスキャン素子の出力状態を互いに同一の論理レベルに設定した後に、シフト動作を開始させるための制御回路250,251を設け、初期状態として、バウンダリスキャン素子212〜235,236〜249の出力状態を互いに同一の論理レベルに固定して、スキャン動作を行うことにより、内部用電源回路212〜221の故障診断情報を得る。
請求項（抜粋）：
基準電圧を生成するための基準電圧発生回路と、この基準電圧発生回路によって生成された基準電圧に基づいて、内部論理回路の動作用電圧を生成するための複数の内部用電源回路とを含む半導体集積回路であって、上記複数の内部用電源回路に対応して設けられ、且つ、対応する内部用電源回路からの電源供給によって動作可能な複数のスキャン素子を含んで成り、この複数のスキャン素子の保持値を順次シフトすることによって、上記複数の内部用電源回路の故障診断情報の外部出力を可能にするスキャン回路を備えたことを特徴とする半導体集積回路。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01R 31/28 V
, G01R 31/28 G
