特許
J-GLOBAL ID：200903009117736159
レーザ測量器械
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
中村 稔 (外6名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-031134
公開番号（公開出願番号）：特開平7-239448
出願日： 1994年03月01日
公開日（公表日）： 1995年09月12日
要約：
【要約】【目的】 光量の低下を極力防止しながら、半導体レーザの楕円形のレーザスポットを円形に近い形状に整形することにより、測量対象の位置決め作業を高精度かつ効率的に行うことができ、かつ器械全体を大型化させることのないレーザ測量器械を提供すること【構成】 半導体レーザを光源とし、該半導体レーザから出射したレーザ光束のビームスポットを整形するための振幅フィルタを有するレーザ測量器械において、振幅フィルタが、レーザ光束の楕円形のビームスポットの中心から楕円形の長軸方向に離れるに従って透過度が小さくされており、かつ、短軸方向では透過度は略一定であるレーザ測量器械。
請求項（抜粋）：
半導体レーザを光源とし、該半導体レーザから出射したレーザ光束のビームスポットを整形するための振幅フィルタを有するレーザ測量器械において、前記振幅フィルタは、レーザ光束の楕円形のビームスポットの中心から楕円形の長軸方向に離れるに従って透過度が小さくされており、かつ、短軸方向では透過度は略一定であることを特徴とするレーザ測量器械。
IPC (3件)：
G02B 27/09
, G01C 5/00
, G01C 15/00
