発光スペクトル測定装置及び測定方法

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：加藤公久
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-011214
公開番号（公開出願番号）：特開2002-243642
出願日： 2001年01月19日
公開日（公表日）： 2002年08月28日
要約：

【要約】【課題】発光体からの光のスペクトル分布を正確に測定する。【解決手段】本発明の第1の発明では、発光体4が発光する光6のスペクトルに関連する特性値を測定するため、該光を集光する集光装置7と集光された光のスペクトル分布を測定する分光器8と該分光器が測定したスペクトル分布から所望の前記特性値を算出する計算手段(不図示)とを備えた発光スペクトル測定装置が提供される。この測定装置においては、前記集光装置は、前記光の干渉フリンジによる特性値の測定誤差が所定の閾値以下となるように該閾値によって定まる数値開口より大きな数値開口を有するものである。発光体周囲に反射板を設けてその値を増大することができる。

請求項（抜粋）：

発光体が発光する光のスペクトルに関連する特性値を測定するため、該光を集光する集光装置と集光された光のスペクトル分布を測定する分光器と該分光器が測定したスペクトル分布から所望の前記特性値を算出する計算手段とを備えた測定装置において、前記集光装置は、前記光の干渉フリンジによる特性値の測定誤差が所定の閾値以下となるように該閾値によって定まる数値開口より大きな数値開口を有するものであることを特徴とする発光スペクトル測定装置。

IPC (5件)：

G01N 21/66 , G01J 1/02 , G01J 3/443 , G01N 21/01 , G01N 21/64

FI (6件)：

G01N 21/66 , G01J 1/02 F , G01J 3/443 , G01N 21/01 C , G01N 21/01 B , G01N 21/64 Z

Fターム (41件)：

2G020AA04 , 2G020BA20 , 2G020CB22 , 2G020CB43 , 2G020CC01 , 2G020CD04 , 2G020CD36 , 2G043AA03 , 2G043CA07 , 2G043DA08 , 2G043EA01 , 2G043EA06 , 2G043HA01 , 2G043HA02 , 2G043HA04 , 2G043JA01 , 2G043KA02 , 2G043KA09 , 2G043MA16 , 2G043NA01 , 2G059AA05 , 2G059BB10 , 2G059DD13 , 2G059DD16 , 2G059EE06 , 2G059EE07 , 2G059GG01 , 2G059HH02 , 2G059JJ01 , 2G059KK01 , 2G059MM01 , 2G059NN10 , 2G065AA04 , 2G065AB04 , 2G065AB09 , 2G065AB22 , 2G065BB06 , 2G065BB11 , 2G065BB42 , 2G065BC13 , 2G065CA30

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