特許
J-GLOBAL ID：200903009169383572
質量分析装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
平木 祐輔
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-311965
公開番号（公開出願番号）：特開平8-166371
出願日： 1994年12月15日
公開日（公表日）： 1996年06月25日
要約：
【要約】【目的】 大気圧イオン源で生成したイオンを効率良くイオントラップ質量分析計に導入し、分析を行う。【構成】 大気圧イオン源における差動排気部において、ノズル5とスキマー9の間に第2ノズル7を有する遮蔽板設けた構成とする。ノズル5直後に発生する超音速流領域を圧縮して液滴の気化効率を高め、イオンのクラスタリングを抑えてイオンを高感度に分析する。
請求項（抜粋）：
大気圧またはこれに準じた圧力下で試料溶液をイオン化するイオン化手段と、前記イオン化手段によって生成されたイオンを加熱された第1のノズルを通して導入するための差動排気部と、前記差動排気部に加熱されたスキマーを介して接続された高真空室と、前記スキマーを通して前記高真空室中に導入されたイオンを質量分析して検出するためのイオントラップ型質量分析部からなる質量分析装置において、前記差動排気部内に、直線的な流路を有する第2のノズルを備える遮蔽板を、第2のノズルの出口が前記イオントラップ質量分析部のエンドキャップ電極に対向するように設けたことを特徴とする質量分析装置。
IPC (2件)：
引用特許：
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