特許

J-GLOBAL ID：200903009182204539

光カード検査装置

発明者： 蜂 木 茂 男 ,  東 義 洋
出願人/特許権者： 大日本印刷株式会社
代理人 (1件)： 佐藤 一雄 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-222055
公開番号（公開出願番号）：特開2000-055639
出願日： 1998年08月05日
公開日（公表日）： 2000年02月25日
要約：

【要約】【課題】 光カードに関し擬似欠陥の発生を抑えることができるとともに、欠陥検出を精度良く行なうこと。【解決手段】 CCDカメラ2からの光カードの画像信号のうち、第1領域からの画像信号はx微分処理フィルタ23aで微分され、第2領域からの画像信号はy微分処理フィルタ23bで微分される。x微分処理フィルタ23aおよびy微分処理フィルタ23bからの信号は、各々二値化処理部24a,24bに入力される。次に二値化処理された信号に基づいてCPUにより光カードの欠陥検出が行なわれる。

請求項（抜粋）：

少なくとも第1領域と第2領域とを含む光記録層を有する光カードを検査する光カード検査装置において、光カードを載置してx方向およびy方向へ移動するxyテーブルと、光カードの光記録層に光を投光する投光器と、光カードの光記録層から反射する光を受光する受光器と、受光器に接続され画像処理を行なって光カードの欠陥検出を行なう画像処理とを備え、画像処理装置は第1領域からの画像信号をx方向に微分するx微分処理フィルタと、第2領域からの画像処理をy方向に微分するy微分処理フィルタと、x微分処理フィルタおよびy微分処理フィルタからの信号を各々二値化処理する二値化処理部と、二値化した信号に基づいて欠陥を検出するCPUとを有することを特徴とする光カード検査装置。

IPC (2件)：

G01B 11/30 ,  G01N 21/88

FI (2件)：

G01B 11/30 C ,  G01N 21/88 Z

Fターム (34件)：

2F065AA12 ,  2F065AA18 ,  2F065BB18 ,  2F065BB25 ,  2F065BB26 ,  2F065CC03 ,  2F065DD06 ,  2F065FF04 ,  2F065FF41 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL04 ,  2F065MM03 ,  2F065PP12 ,  2F065QQ04 ,  2F065QQ13 ,  2F065QQ18 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ34 ,  2F065QQ41 ,  2F065SS04 ,  2F065SS13 ,  2F065UU05 ,  2G051AA73 ,  2G051AB02 ,  2G051CA04 ,  2G051CB01 ,  2G051CC07 ,  2G051DA07 ,  2G051EA08 ,  2G051EA11 ,  2G051EC05 ,  2G051ED01