特許
J-GLOBAL ID：200903009222718425
電気装置の気密テスト用構造
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大島 陽一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-304291
公開番号（公開出願番号）：特開平8-136391
出願日： 1994年11月14日
公開日（公表日）： 1996年05月31日
要約：
【要約】 (修正有)【目的】部品組み付け後に気密テストを行えるように通気孔が形成された電気装置の気密テスト用構造を提供する。【構成】本体に内蔵された機器に導体を介して電気的に接続され、かつ本体の外壁に開設された導体のステー挿通孔15を液密に封止するように本体の外壁に固着されたギアボックス側コネクタ2に、そのケースを貫通するように通気孔14が形成されており、コネクタに気密に接合された送気用コネクタからの圧気が漏出することなく通気孔14並びにステー挿通孔15を経て本体の内部に導入されるものとする。特に、有底筒状のケース体の底壁を貫通して本体の外壁に対する取付面に至るように形成された通気孔、並びに挿通孔の内面と該挿通孔に遊挿される導体を内包する被覆体の外面との間の間隙を経て圧気が本体の内部に導入される。
請求項（抜粋）：
本体に内蔵された機器に導体を介して電気的に接続され、かつ前記本体の外壁に開設された前記導体の挿通孔を液密に封止するように本体の外壁に固着されたコネクタに、そのケース体を貫通するように通気孔が形成されており、前記コネクタに気密に接合された送気用コネクタからの圧気が漏出することなく前記通気孔並びに前記挿通孔を経て前記本体の内部に導入されることを特徴とする電気装置の気密テスト用構造。
IPC (2件)：
G01M 3/26
, H01R 13/52 301
