特許
J-GLOBAL ID:200903009251351700

半導体装置の実装方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 鈴木 崇生 (外4名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-362669
公開番号(公開出願番号):特開2002-164387
出願日: 2000年11月29日
公開日(公表日): 2002年06月07日
要約:
【要約】【課題】 耐熱性粘着テープにシリコーン系粘着剤を使用した場合でも、半導体装置を実装する際に、はんだ付けの濡れ性が良好となる半導体装置の実装方法、並びにそれに用いる半導体装置を提供する。【解決手段】 シリコーン系粘着剤に由来する汚染物質がアウターパッドに付着し、その汚染物質の付着量が蛍光X線分析によるケイ素原子の付着量で20mg/m2 以下である半導体装置を用いて、配線基板へのはんだ付けを行う工程を含む半導体装置の実装方法。
請求項(抜粋):
シリコーン系粘着剤に由来する汚染物質がアウターパッドに付着し、その汚染物質の付着量が蛍光X線分析によるケイ素原子の付着量で20mg/m2 以下である半導体装置を用いて、配線基板へのはんだ付けを行う工程を含む半導体装置の実装方法。
Fターム (3件):
5F044KK01 ,  5F044LL01 ,  5F044QQ06

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