特許
J-GLOBAL ID:200903009279962764
応力の測定方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
森田 寛
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-306318
公開番号(公開出願番号):特開平10-148587
出願日: 1996年11月18日
公開日(公表日): 1998年06月02日
要約:
【要約】【課題】 X線回折による信頼性の高い応力の測定方法を確立して、歪ゲージでの測定値と対比することの出来る応力値を得る。【解決手段】 被測定物の表面を0.2mm以上研摩して面粗度をRmax15μm以下として、X線回折を行い2θと被測定物の材料面法線と格子面法線のなす角度ψとしたとき回折角(2θ)と sin2 ψの関係線の勾配を求めて、【数1】式から応力を求める。また、X線による応力の測定値σxと歪ゲージでの応力σの測定値の相関を予め求めておき、X線による応力の測定値から歪ゲージでの測定値に換算する。
請求項(抜粋):
被測定物の材料面法線と格子面法線のなす角度ψと回折X線の回折角(2θ)からその被測定物の応力を次式により求める方法において、【数1】被測定物の表面を0.2mm以上研摩して面粗度をRmax15μm以下として、X線回折を行い2θと sin2 ψの関係線の勾配を求めて、前記式から応力を求めることを特徴とする応力の測定方法。
IPC (3件):
G01L 1/00
, G01L 1/25
, G01N 23/20
FI (3件):
G01L 1/00 A
, G01L 1/25
, G01N 23/20
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